半導體封裝測試工藝詳解

2023-08-17 11:10:58 來源:今日半導體

簡介

半導體:生產過程主要可分為(晶圓制造Wafer Fabrication) 、(封裝工序 Packaging)、(測試工序 Test) 幾個步驟。

晶圓制造 (Wafer Fabrication):是晶體按照設計圖紙,進行芯片制作。


【資料圖】

(因為,這里主要講“封裝”所以晶圓加工就不細細說明了)

封裝工序 (Packaging):是指 生產加工后的晶圓進行 切割、焊線塑封,使電路與外部器件實現鏈接,并為半導體產品提供機械保護,免受物理、化學等外界環境影響產品的使用。

測試(Test):利用專業設備,對產品進行功能和性能測試,測試過程分為 “中測”和“終測”2個主要過程。

“半導體”的完整產業鏈是:

半導體,是電子終端產品(例如:手機、游戲機、遙控器等)的關鍵 “組成部分”,產業鏈分為:

設計、制造、封測三個主要大環節。

設計:設計人員根據產品的需求,利用軟件和代碼,完成電路的設計和布線。

制造:晶圓廠根據設計圖,在“晶圓”(一種半導體材料) 上完成電路的制造(刻好電路圖)。

封測:被刻好電路圖的“晶圓”被送到封測廠進行“ 封裝”和“測試”,檢測合格的產品便可以應用于終端產品中了。

審核編輯:湯梓紅

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