IGBT雙脈沖測試仿真過程描述

2023-07-12 11:12:45 來源:半導體技術人

IGBT開通和關斷過程描述:

圖1 IGBT開通過程波形

開通過程簡述:


(資料圖片)

a)階段1(0—t1):在此階段,柵極電流開始對柵電容CGE充電,但是VGE

b)階段2(tl—t2):在t1時刻,VGE>Vth,溝道開啟,電子開始通過溝道注入到基區,同時背面的集電極開始向基區內注入空穴,集電極開始產生電流IC,此時IC

c)階段3(t2—t3):在t2時刻,IC=IL,流過續流二極管的電流降低至0,二極管內部載流子開始復合。

d)階段4(t3—t4):續流二極管內部載流子已經完成復合,續流二極管兩端電壓開始上升,這導致IGBT兩端的電壓下降和柵極集電極電容CGC放電。此時IGBT電流Ic形成過沖,過沖的大小與CGC大小有密切關系,CGC越大,IC過沖越大。

e)階段5(t4—t5):在t4時刻,VGE將調整以適應IC的過沖,在t5時刻,二極管反向恢復完成,VGE將會略微下降,使IGBT可以承受負載電流IL。在此階段,柵極發射極電壓VGE保持恒定,柵極電流流入至柵極集電極電容CGC,集電極發射極兩端電壓隨著CGC放電而下降。

f)階段6(t6—t7):在t6時刻,VCE下降到使IGBT進入飽和狀態,柵極反射極電壓增加以維持IL,當VCE衰減穩定后,穩定值即為飽和導通壓降VCE(sat),到此開通過程完全結束。

圖2 IGBT關斷過程波形

關斷過程簡述:

a)階段1(0—t1),在t=0時刻,開關S動作,lGBT開始關斷,柵極通過RG開始放電,VGE下降。這導致通過溝道注入到基區的電子數量變少,但是由于感性負載的存在,通過抽取N基區中多余的電子和空穴來抑制IC的減小。

b)階段2(tl—t3)在t1時刻,基區內剩余電荷降為0,耗盡區開始形成。在VCE較小時,柵壓維持在VGP(VGP的大小與柵極電阻RG成正比),當VCE超過一定限度時,柵壓開始下降。

c)階段3(t3—t6)在t3時刻,VCE達到電路外加電壓VDC,耗盡區不再展寬,此時集電極電路IC迅速下降,由于IC的下降在負載電感上感生一個負電壓,此時VCE過沖到最大值,感生電壓使續流回路導通,負載電流轉移到續流回路。IGBT關斷完成。

在IGBT開關過程中通常用開通延遲td(on)、關斷延遲td(off)、上升時間tr和下降時間tf來進行描述。圖5是IGBT整個開關過程的波形。

圖3 IGBT整個開關過程波形

(1)測試電路1

(2)測試電路2

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